test.h 파일 참조

grouping test 세부 사항 보기

이 파일에 대한 소스 코드 보기

instruction sets for SPI EEPROM
#define	WREN_CMD   0x06
	set write enable latch
#define	WRDI_CMD   0x04
	reset write enabme latch
#define	RDSR_CMD   0x05
	read status register
#define	WRSR_CMD   0x01
	write status register
#define	READ_CMD   0x03
	read data from memory array
#define	WRITE_CMD   0x02
	write data to memory array

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세부 사항

grouping test

작성자:

Gudo kim

test.h 파일에서 정의

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